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產(chǎn)品分類
光學(xué)檢測(cè)產(chǎn)品
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光偏振態(tài)、雙折射(RO、Rth)和穆勒矩陣的光譜測(cè)量 ?測(cè)量波長(zhǎng):400 至800 nm,分辨率:2 nm ?偏振態(tài)(斯托克斯譜)測(cè)量 ?雙折射(高達(dá)100,000 m)、Rth 分析 ?使用穆勒矩陣評(píng)估偏振特性 ?高度可定制,適用于反射率測(cè)量等。
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